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                1. 當(dāng)前位置:首頁  >  產(chǎn)品中心  >  膜厚儀  >  Thetametrisis膜厚儀  >  FR-InLine-在線薄膜厚度測量儀

                  FR-InLine-在線薄膜厚度測量儀

                  簡要描述:FR-InLine 是一款模塊化可擴(kuò)展的在線薄膜厚度測量儀(膜厚儀),可進(jìn)行在線非接觸測量 3nm-1mm 厚度范圍內(nèi)的涂層。
                  FR-InLine 膜厚儀并可以依據(jù)各種不同應(yīng)用設(shè)置多個(gè)參數(shù)的實(shí)時(shí)測量,例如:反射率和透射率光譜、厚度、色座標(biāo)。
                  FR-InLine 膜厚儀測量軟件可以在標(biāo)準(zhǔn) Windws 10/11 中執(zhí)行。

                  • 產(chǎn)品型號:
                  • 廠商性質(zhì):代理商
                  • 產(chǎn)品資料:
                  • 更新時(shí)間:2024-12-18
                  • 訪  問  量: 1639

                  詳細(xì)介紹

                  1、簡述

                  FR-InLine 是一款模塊化可擴(kuò)展的在線薄膜厚度測量儀(膜厚儀),可進(jìn)行在線非接觸測量 3nm-1mm 厚度范圍內(nèi)的涂層。

                  FR-InLine 在線薄膜厚度測量儀(膜厚儀)并可以依據(jù)各種不同應(yīng)用設(shè)置多個(gè)參數(shù)的實(shí)時(shí)測量,例如:反射率和透射率光譜、厚度、色座標(biāo)。

                  FR-InLine 膜厚儀測量軟件可以在標(biāo)準(zhǔn) Windws 10/11 中執(zhí)行。

                  2、產(chǎn)品應(yīng)用

                  • 透明和半透明涂層

                  • 眼鏡上的涂層

                  • 食品工業(yè)

                  • 光學(xué)薄膜

                  • 包裝

                  • 粘合劑

                  • 聚合物

                  • 可撓式電子和顯示器

                  • 其他各種工業(yè)……

                  (聯(lián)系我們了解您的應(yīng)用需求)

                  3、產(chǎn)品特征

                  FR-InLine 膜厚儀提供半寬(蕞多 4 通道)和全寬(蕞多 8 通道)3U 機(jī)架安裝機(jī)箱,可實(shí)時(shí)測量涂層的薄膜厚度。 FR-InLine 通過標(biāo)準(zhǔn)I/控制埠為啟動/停止/復(fù)位功能提供外部觸發(fā)選項(xiàng)。測量數(shù)據(jù)可立即供其他軟件使用,以進(jìn)一步調(diào)整生產(chǎn)流程。工程師可以輕易完成安裝。

                  4、附件

                  FR-InLine 附帶多個(gè)附件,例如:

                  §TCP/IP 通信

                  §支持任何特定需求長度和配置的反射探頭和光纖

                  §光學(xué)模塊(例如聚焦透鏡、運(yùn)動支架),以協(xié)助探頭安裝在產(chǎn)線上

                  5、其他特點(diǎn)

                  提升流程運(yùn)行時(shí)間和產(chǎn)品質(zhì)量

                  減少原材料消耗和成本控制

                  6、FR-InLine 規(guī)格(標(biāo)準(zhǔn)配置)

                  Model

                  UV/Vis

                  UV/NIR-EXT

                  VIS/NIR

                  NIR

                  NIR-N1

                  WLRange–nm波長

                  200–850

                  200–1020

                  370–1020

                  900–1700

                  850-1050

                  Pixels像素

                  3648

                  3648

                  3648

                  512

                  3648

                  ThicknessRange*1

                  3nm-80um

                  3nm-90um

                  15nm-90um

                  200um

                  1um-400um

                  n&k-MinThick

                  50nm

                  50nm

                  100nm

                  500nm

                   

                  Thick.Accuracy*2

                  1nm/0.2%

                  1nm/0.2%

                  1nm/0.2%

                  3nm/0.4%

                  50nm/0.2%

                  Thick.Precision*3,4

                  0.02nm

                  0.02nm

                  0.02nm

                  0.1nm

                   

                  Thick.stability*5

                  0.05nm

                  0.05nm

                  0.05nm

                  0.15nm

                   

                  LightSource

                  ExternalDeuterium&Halogen,2000h

                  Halogen(internal)3000h(MTBF)

                  IntegrationTime

                  5msec(min)

                   

                  5msec(min)

                   

                  Spotsize

                  Diameterof350um(smallerspotsizeoptionsareavailableuponrequest)

                  MaterialDatabase

                   

                  >700differentmaterials

                   

                  Connectivity

                     

                  USBorTCP/IP

                     

                  Power

                   

                  100-240V50-60Hz

                     

                  FR-InLine膜厚儀測量圖示FR-InLine膜厚儀測量圖示2

                  注:

                  *1、規(guī)格如有變更,恕不另行通知

                  *2、與校正過的光譜橢偏儀和x射線衍射儀的測量結(jié)果匹配

                  *3、超過15天平均值的標(biāo)準(zhǔn)偏差平均值,樣品:硅晶片上1微米Si2

                  *4、標(biāo)準(zhǔn)偏差100次厚度測量結(jié)果,樣品:硅晶片上1微米Si2,

                  *5、15天內(nèi)每日平均值的2*標(biāo)準(zhǔn)差。樣品:硅片上1微米Si2。

                   

                   

                   

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