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                  • RTEC 白光干涉儀+共聚焦一體機

                    該儀器具備轉(zhuǎn)盤式針孔共聚焦和白光干涉兩種光學測量技術(shù),用于各種材料/涂層/器件的高精度表面三維特征 測量,能夠測量從粗糙的到光滑的,堅硬的到柔軟的,黏性的表面以及各種場合下難于測量的表面,適用于金屬材 料、非金屬材料、復合材料、薄膜、涂層、器件等各種各樣材料的表面微觀結(jié)構(gòu)特征的3D成像,提供各種粗糙度, 表面結(jié)構(gòu)的臺階高度,角度、體積、長度、深度等多種數(shù)據(jù)的測試分析、相似特征的統(tǒng)計分析,輪廓提取等

                    更新時間:2024-11-09
                    型號:
                    廠商性質(zhì):代理商
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